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首頁(yè) > 技術(shù)與(yǔ)支(zhī)持(chí) > 分(fēn)析(xī)一下影響(xiǎng)塗層測厚(hòu)儀(yí)測量(liáng)的因(yīn)素
分析(xī)一下影(yǐng)響(xiǎng)塗(tú)層測(cè)厚(hòu)儀測(cè)量的因(yīn)素(sù)
點擊次(cì)數:2300 更新時(shí)間(jiān):2019-11-18
  塗(tú)層測厚儀(yí)測量(liáng)影響因素(sù):
 
  a.基體(tǐ)金屬(shǔ)磁(cí)性質
 
  磁(cí)性(xìng)法(fǎ)測厚(hòu)受基體(tǐ)金屬磁(cí)性(xìng)變化(huà)的(dí)影響(xiǎng)(在(zài)實(shí)際(jì)應(yīng)用中,低碳(tàn)鋼(gāng)磁性的變化(huà)可以認(rèn)為(wéi)是輕(qīng)微(wēi)的),為(wéi)了避免熱處(chǔ)理(lǐ)和冷加(jiā)工(gōng)因(yīn)素的(dí)影(yǐng)響,應(yīng)使用(yòng)與試(shì)件(jiàn)基體金(jīn)屬具(jù)有相同(tóng)性質的標準片對儀(yí)器進行校準;亦(yì)可用待塗覆(fù)試(shì)件進(jìn)行校準(zhǔn)。
 
  b.基體金屬電性質(zhì)
 
  基(jī)體(tǐ)金屬(shǔ)的(dí)電(diàn)導率(shuài)對(duì)測(cè)量(liáng)有(yǒu)影響,而(ér)基(jī)體金屬(shǔ)的(dí)電(diàn)導(dǎo)率(shuài)與(yǔ)其(qí)材(cái)料成(chéng)分(fēn)及熱處(chǔ)理(lǐ)方(fāng)法(fǎ)有關。使用與試(shì)件(jiàn)基(jī)體金屬具(jù)有相同性(xìng)質(zhì)的標(biāo)準片對儀器進行(háng)校準。
 
  c.基體(tǐ)金(jīn)屬厚度
 
  每(měi)一(yī)種儀(yí)器都(dū)有(yǒu)一個(gè)基體(tǐ)金(jīn)屬(shǔ)的臨界(jiè)厚度。大(dà)於(yú)這個(gè)厚(hòu)度,測量就不受基體金屬(shǔ)厚(hòu)度的(dí)影響(xiǎng)。本儀(yí)器的臨(lín)界厚度值(zhí)見(jiàn)附表1。
 
  d.邊緣效應(yīng)
 
  本(běn)儀(yí)器對試件(jiàn)表麵(miàn)形(xíng)狀(zhuàng)的陡變敏感。因此(cǐ)在靠(kào)近試(shì)件邊(biān)緣或(huò)內轉(zhuǎn)角處進行測量(liáng)是(shì)不可(kě)靠的(dí)。
 
  e.曲率(shuài)
 
  試件(jiàn)的曲率對測量有(yǒu)影響(xiǎng)。這種影響(xiǎng)總是(shì)隨(suí)著曲率半徑的(dí)減(jiǎn)少(shǎo)明(míng)顯地增大。因此,在(zài)彎曲試件的表麵(miàn)上測量是不(bù)可靠的(dí)。
 
  f.試(shì)件(jiàn)的(dí)變形
 
  測頭會(huì)使(shǐ)軟覆(fù)蓋層試件變形,因(yīn)此在(zài)這些(xiē)試件上(shàng)測(cè)出(chū)可靠的數(shù)據。
 
  g.表(biǎo)麵粗(cū)糙(cāo)度
 
  基(jī)體金屬和(hé)覆(fù)蓋層的表麵粗(cū)糙(cāo)程度(dù)對(duì)測量有影(yǐng)響。粗(cū)糙程度(dù)增大(dà),影響增大。粗(cū)糙表麵會引起(qǐ)係統誤(wù)差和偶然(rán)誤(wù)差,每(měi)次(cì)測(cè)量時,在(zài)不同(tóng)位置上(shàng)應增(zēng)加(jiā)測量的次數,以(yǐ)克服(fú)這種偶(ǒu)然誤(wù)差(chà)。如果(guǒ)基(jī)體(tǐ)金(jīn)屬粗(cū)糙(cāo),還必須在(zài)未塗覆的(dí)粗(cū)糙(cāo)度相(xiāng)類(lèi)似(sì)的(dí)基(jī)體金屬試件(jiàn)上取(qǔ)幾(jī)個位置(zhì)校(xiào)對(duì)儀器的(dí)零點;或用(yòng)對基體(tǐ)金(jīn)屬(shǔ)沒(méi)有腐(fǔ)蝕的(dí)溶液溶解除去(qù)覆蓋層後,再(zài)校(xiào)對儀(yí)器(qì)的(dí)零點。
 
  h.附(fù)著(zhuó)物質
 
  本儀器(qì)對那些(xiē)妨礙測頭(tóu)與(yǔ)覆(fù)蓋(gài)層(céng)表(biǎo)麵(miàn)緊密(mì)接(jiē)觸(chù)的附(fù)著(zhuó)物質敏感,因此,必(bì)須清除(chú)附(fù)著物(wù)質(zhì),以(yǐ)保(bǎo)證儀(yí)器(qì)測(cè)頭(tóu)和被測(cè)試(shì)件(jiàn)表(biǎo)麵直接(jiē)接觸(chù)。
 
  i.測頭壓(yā)力
 
  測頭置(zhì)於(yú)試件上所施(shī)加(jiā)的(dí)壓力大小會影響測量的(dí)讀(dú)數(shù),因(yīn)此,要保(bǎo)持(chí)壓力恒(héng)定(dìng)。
 
  j.測頭的取向(xiàng)
 
  測(cè)頭的放置(zhì)方式(shì)對(duì)測(cè)量有(yǒu)影響。在(zài)測(cè)量中,應(yīng)當(dāng)使測頭與(yǔ)試(shì)樣(yàng)表麵保持垂(chuí)直(zhí)。
 
  k.磁(cí)場
 
  周(zhōu)圍各種(zhǒng)電氣(qì)設備(bèi)所(suǒ)產(chǎn)生的強磁(cí)場,會(huì)嚴(yán)重(zhòng)地(dì)幹擾(rǎo)磁性法測厚工(gōng)作。